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Center for Industrial Mathematics

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Dr. Dorota Kubalinska

Ehemalige Mitarbeiterin der Former WG Numerics


Research Areas

Projects

  1. Rational Krylov Space Methods for the Model Reduction of LTI Systems (01.10.2004 - 30.09.2007)

Courses (Selection)complete list

  1. Numerische Methoden der Datenassimilation (Wintersemester 2014/2015)
  2. Examenskandidatenseminar (Wintersemester 2014/2015)
  3. Randomisierte Verfahren für große Gleichungssyteme (Wintersemester 2013/2014)
  4. Seminar für Examenskandidaten (Wintersemester 2013/2014)
  5. Randomisierte Verfahren der Numerischen Linearen Algebra (Sommersemester 2013)

Theses (Selection)complete list

  1. Randomisierte Verfahren zur näherungsweisen Matrixfaktorisierung im MALDI-Imaging (Janna Flötotto)
  2. Eine randomisierte Hybridmethode zur Lösung linearer Ausgleichsprobleme (Anh-Tuan Nguyen)
  3. Randomisierte 4D-Var-Datenassimilation am Beispiel des Eady-Modells (Tina Scheidweiler)
  4. Segmentielle Datenassimilationsmethoden für Lorenz-Modelle (Frederieke Miesner)
  5. 4D-Var-Datenassimilation für Doppelpendelbewegungen (Christoph Timmer)

Publications (Selection)complete list

  1. A. Bunse-Gerstner, D. Kubalinska, G. Vossen.
    h2-norm optimal model reduction for large-scale discrete dynamical MIMO systems.
    Journal of Computational and Applied Mathematics, 233(5):1202-1216, Elsevier, 2009.

    DOI: 10.1016/j.cam.2008.12.029

  2. D. Kubalinska.
    Optimal interpolation-based model reduction.
    Dissertationsschrift, Universität Bremen, 2008.
  3. G. Vossen, A. Bunse-Gerstner, D. Kubalinska.
    Necessary optimality conditions for H²-norm optimal model reduction.
    Berichte aus der Technomathematik 07-05, Universität Bremen, 2007.
  4. A. Bunse-Gerstner, D. Kubalinska, G. Vossen.
    Equivalences between necessary optimality conditions for H²-norm optimal model reduction.
    Berichte aus der Technomathematik 07-06, Universität Bremen, 2007.
  5. S. P. Vudathu, A. Bunse-Gerstner, D. Kubalinska, K. Kumar Duganapalli, R. Laur.
    Yield analysis via induction of process statistics into the design of MEMS and other microsystems.
    Microsystem Technologies, 13(11), 1545–1551, 2007.